Шпак, Анатолий Петрович


Анато́лий Петро́вич Шпак (12 мая 1949, Невинномысск[1] — 29 июня 2011, Киев[2]) — украинский ученый , профессор, академик НАН Украины[3], первый вице-президент НАН Украины, иностранный член РАН[4], иностранный член-корреспондент Австрийской академии наук[5]. Лауреат Государственной премии Украины. Заслуженный деятель науки и техники Украины. Специалист в области спектроскопии поверхности твёрдого тела, возглавлял Институт металлофизики им. Г.В. Курдюмова НАН Украины (с 2002 года).

Анатолий Шпак окончил Ростовский государственный университет в 1971 году по специальности материаловедение, поступил в Институт металлофизики им. Г. В. Курдюмова, где с 1985 года заведует лабораторией, с 1996 года — отделом спектроскопии поверхности твёрдого тела. С 2002 года — директор института.

С 1977 года работает в аппарате Президиума АН УССР. С 1993 года — главный учёный секретарь НАН Украины, с 1998 года — первый вице-президент НАН Украины.

Анатолій Петрович Шпак — автор нескольких сотен научных работ. Он является главным редактором научных журналов «Металлофизика и новейшие технологии», «Успехи физики металлов» и сборника научных работ «Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології»; членом редколлегий научных журналов «Вісник НАН України», «Доповіді НАН України», «Искусственный интеллект», «Наука та наукознавство», «Наукові вісті Національного технічного університету України „Київський політехнічний інститут“», «Фізика і хімія твердого тіла» и «Украинского реферативного журнала „Джерело“».

На основе фундаментальных исследований атомной и электронной структуры низкоразмерных систем Анатолием Шпаком были разработаны физико-химические основы нового научного направления — кластерного материаловедения.

Для этого направления ученый начинает развивать начатые ещё в 1970-х годах работы, связанные с материаловедением силицидов переходных материалов. Эти работы обрели особую актуальность в связи с поиском перспективных материалов с аномально высоким углом Керровского вращения, которые использовались в новейших системах записи компьютерной информации. Комплекс исследований проводился в рамках общеевропейской программы «Physical properties of bulk single crystals and thin filmsof metal silicides».[6]