Тепловой пробой — это необратимый вид пробоя p-n-перехода, являющийся следствием увеличения обратного напряжения.
При электрическом пробое ток возрастает и, достигая определенного значения, может начать необратимый процесс разрушения p-n-перехода. Поэтому одним из важнейших параметров полупроводникового прибора является максимально допустимое обратное напряжение (пробивное напряжение), при котором сохраняется основное свойство полупроводника — односторонняя проводимость. Превышение напряжением величины пробивной проводимости может привести к выходу из строя полупроводникового прибора[1].
При увеличении температуры транзистора происходит возрастание коллекторного тока, вызывающее возрастание тепловой мощности, рассеиваемой в транзисторе, и его температуры.[2]
здесь: - обратный ток p-n перехода при температуре , - обратный ток p-n перехода при температуре , - величина, для германиевого р-n перехода примерно равная ,
Рассеиваемая на p-n переходе тепловая мощность :
здесь - обратное напряжение, приложенное к p-n переходу.