Встроенная логическая самопроверка (или LBIST ) — это форма встроенной самопроверки (BIST), в которой аппаратное и/или программное обеспечение встроено в интегральные схемы, что позволяет им тестировать собственную работу, а не полагаться на внешние автоматизированное испытательное оборудование .
Основным преимуществом LBIST является возможность тестирования внутренних цепей, не имеющих прямого подключения к внешним контактам и, следовательно, недостижимых для внешнего автоматизированного испытательного оборудования. Еще одним преимуществом является возможность запуска LBIST интегральной схемы во время выполнения встроенной самопроверки или самопроверки готового изделия при включении питания.
LBIST, который требует дополнительных схем (или постоянной памяти ), увеличивает стоимость интегральной схемы. LBIST, который требует только временных изменений в программируемой логике или перезаписываемой памяти , позволяет избежать этих дополнительных затрат, но требует больше времени для первого программирования в BIST, а затем для его удаления и программирования в окончательной конфигурации. Еще одним недостатком LBIST является возможность отказа самого встроенного оборудования для тестирования; внешнее автоматизированное тестовое оборудование тестирует интегральную схему с заведомо исправной тестовой схемой.
Другими родственными технологиями являются MBIST (BIST, оптимизированный для тестирования внутренней памяти ) и ABIST (либо BIST, оптимизированный для тестирования массивов , либо BIST, оптимизированный для тестирования аналоговых схем ). Эти два применения можно различить, если учесть, имеет ли тестируемая интегральная схема внутреннюю матрицу или аналоговые функции.