Автоматическое испытательное оборудование
Автоматическое испытательное оборудование или автоматизированное испытательное оборудование ( ATE ) — это любое устройство, которое выполняет испытания на устройстве, известном как тестируемое устройство (DUT), тестируемое оборудование (EUT) или тестируемое устройство (UUT), используя автоматизацию для быстрого выполнения измерений. и оценить результаты теста. ATE может быть простым цифровым мультиметром , управляемым компьютером , или сложной системой, содержащей десятки сложных контрольно-измерительных приборов (реальных или смоделированных электронных контрольно-измерительных приборов ), способных автоматически тестировать и диагностировать неисправности в сложных электронных компонентах или при тестировании пластин , включая систему на чипсыи интегральные схемы .
ATE широко используется в электронной промышленности для тестирования электронных компонентов и систем после их изготовления. ATE также используется для тестирования авионики и электронных модулей в автомобилях. Он используется в военных приложениях, таких как радар и беспроводная связь.
Полупроводниковый ATE, названный в честь тестирования полупроводниковых устройств , может тестировать широкий спектр электронных устройств и систем, от простых компонентов ( резисторы , конденсаторы и катушки индуктивности ) до интегральных схем (ИС), печатных плат (ПП) и сложных, полностью собранных электронные системы. Для этого используются пробные карты.используются. Системы ATE предназначены для сокращения времени тестирования, необходимого для проверки того, что конкретное устройство работает, или для быстрого поиска его неисправностей, прежде чем деталь сможет быть использована в конечном потребительском продукте. Чтобы снизить производственные затраты и повысить доходность, полупроводниковые устройства следует тестировать после изготовления, чтобы предотвратить попадание дефектных устройств к потребителю.
Архитектура полупроводникового ATE состоит из главного контроллера (обычно компьютера ), который синхронизирует один или несколько источников и приборов захвата (перечислены ниже). Исторически в системах ATE использовались специально разработанные контроллеры или реле . Тестируемое устройство (DUT) физически подключается к ATE с помощью другой роботизированной машины, называемой обработчиком или зондом , и через настраиваемый адаптер тестирования интерфейса (ITA) или «приспособление», которое адаптирует ресурсы ATE к DUT.
Промышленный ПК представляет собой обычный настольный компьютер, упакованный в стандартную 19-дюймовую стойку с достаточным количеством слотов PCI/PCIe для размещения карт стимулятора/сенсора Signal. Это берет на себя роль контроллера в ATE. На этом ПК осуществляется управление разработкой тестовых приложений и хранением результатов. Большинство современных полупроводниковых АТС включают в себя несколько приборов с компьютерным управлением для получения или измерения широкого диапазона параметров. В состав приборов могут входить источники питания устройств (DPS), [1] [2]блоки параметрических измерений (PMU), генераторы сигналов произвольной формы (AWG), дигитайзеры, цифровые вводы-выводы и вспомогательное оборудование. Приборы выполняют различные измерения на тестируемом устройстве и синхронизируются таким образом, что они формируют и измеряют сигналы в нужное время. В зависимости от требований к времени отклика также рассматриваются системы реального времени для стимуляции и захвата сигналов.
Массовое межсоединение представляет собой соединительный интерфейс между измерительными приборами (PXI, VXI, LXI, GPIB, SCXI и PCI) и тестируемыми устройствами/блоками (D/UUT). Этот раздел действует как узловая точка для сигналов, входящих и исходящих между ATE и D/UUT.
