Спектральное разрешение


Спектра́льное разре́шение спектрографа или, в более общем смысле, энергетического спектра является мерой способности спектроскопической аппаратуры разрешать линии в электромагнитном спектре или вообще в спектре энергий. Обычно абсолютное спектральное разрешение определяется как минимальная разница длин волн двух линий, надёжно разрешаемых в спектре при данной длине волны λ. Относительное спектральное разрешение определяется как отношение Δλ / λ. Относительное спектральное разрешение является обратной величиной к разрешающей способности спектрографа, определяемой как

Например, спектрограф космического телескопа Хаббл[англ.] (STIS) может разрешить линии, отстоящие на 0,17 нм на длине волны 1000 нм, что дает ему разрешение 0,17 нм и разрешающую способность около 5900. Примером спектрографа с высоким разрешением является криогенный ИК-эшелле-спектрограф высокого разрешения (CRIRES), установленный на Очень Большом Телескопе ESO, который имеет спектральную разрешающую способность до 100 000[1].

Для гамма- и рентгеновских спектрометров, а также для спектрометров, измеряющих энергии частиц, абсолютное спектральное разрешение часто измеряется в энергетических единицах (эВ, кэВ, МэВ), обозначается ΔE и определяется одним из трёх методов:

Относительное энергетическое разрешение ΔE / E для таких спектрометров часто обозначается как R (не путать с обозначением разрешающей способности, см. выше) и выражается в процентах.

Спектральное разрешение также может быть выражено в терминах физических величин, таких как скорость; тогда он описывает разницу между скоростями , что можно различить по эффекту Доплера. Тогда разрешение и разрешающая способность связаны соотношением:,