Селенид серебра (I)

Селенид серебра (I)
Имена

Название ИЮПАК Селенид серебра (I)
Другие имена Науманнитом Argentous селенида
Идентификаторы
Количество CAS	1302-09-6^Y
ECHA InfoCard	100.013.727
PubChem CID	6914520
UNII	QZ0B90W7EQ^Y
Панель управления CompTox ( EPA )	DTXSID2061644
Характеристики
Химическая формула	Ag ₂ Se
Молярная масса	294,7 г / моль
Плотность	8,216 г / см ³ , твердый
Температура плавления	896,85 ° С (1646,33 ° F, 1170,00 К)
Растворимость в воде	нерастворимый
Ширина запрещенной зоны	0,15 эВ ^[1]
Структура
Кристальная структура	орторомбический , oP12
Космическая группа	П2 ₁ 2 ₁ 2 ₁ , № 19
Термохимия
Энтальпия плавления (Δ _FH ^⦵_FUS )	56,9 Дж / г
Если не указано иное, данные приведены для материалов в их стандартном состоянии (при 25 ° C [77 ° F], 100 кПа).
N проверить ( что есть ?)^YN
Ссылки на инфобоксы

Селенид серебра (Ag ₂ Se) представляет собой продукт реакции, образующийся при тонировании селеном аналога серебряно-желатиновой фотобумаги при тонировании фотопечати . Селеновый тонер содержит селенит натрия (Na ₂ SeO ₃ ) в качестве одного из своих активных ингредиентов, который является источником аниона селенида (Se ^2- ), соединяющегося с серебром в процессе тонирования.

Он встречается в природе как минерал науманнит , сравнительно редкий минерал серебра, который, тем не менее, стал признанным важным соединением серебра в некоторых серебряных рудах с низким содержанием серы, добываемых в шахтах Невады и Айдахо. ^[2]^[3]

Структура [ править ]

Селенид серебра имеет две кристаллические фазы. При более низких температурах он имеет ромбическую структуру β-Ag ₂ Se. Эта орторомбическая фаза, устойчивая при комнатной температуре, представляет собой узкозонный полупроводник с пространственной группой P2 ₁ 2 ₁ 2 ₁ . Точный размер запрещенной зоны варьируется от 0,02 эВ до 0,22 эВ. ^[4]

Существует также высокотемпературная кубическая фаза α-Ag ₂ Se. ^{[5], в} которую она превращается при температурах выше 130 ° C. Эта высокотемпературная фаза имеет пространственную группу Im 3 m, № 229, символ Пирсона cI20. Фазовый переход увеличивает ионную проводимость в 10 000 раз до примерно 2 См / см.

Ссылки [ править ]

^ О. Маделунг (2004). Полупроводники: справочник . Birkhäuser. п. 461. ISBN. 978-3-540-40488-0.
^ http://nevada-outback-gems.com/Reference_pages/sulfide_ores.htm Примечания по науманниту.
^ Гильберт, Джон М .; Парк-младший, Чарльз Ф. (2007-02-09). Геология рудных месторождений . Waveland Press. п. 557. ISBN. 978-1-4786-0887-5.
^ Кирхгоф Ф .; Holender JM; Гиллан MJ (1996). «Структура, динамика и электронная структура жидких сплавов Ag-Se исследованы методом ab initio моделирования». Physical Review B . 54 (1): 190–202. arXiv : mtrl-th / 9602001 . Bibcode : 1996PhRvB..54..190K . DOI : 10.1103 / PhysRevB.54.190 .
^ Ан, Бу Хён; Джи, Хе Мин; Ву, Цзюнь-Хуа; Чо, Мун Кю; Ян, Ки-Ён; Ли, Хон; Ким, Ён Гын (2009). «Тонкие пленки селенида серебра с фазовым переходом, полученные методом импульсного электроосаждения». Современная прикладная физика . 9 (6): 1338–1340. DOI : 10.1016 / j.cap.2008.12.017 . ISSN 1567-1739 .

Этот материал, связанный с неорганическими соединениями, является незавершенным . Вы можете помочь Википедии, расширив ее .

[r1-1] О. Маделунг (2004). Полупроводники: справочник . Birkhäuser. п. 461. ISBN. 978-3-540-40488-0.

[2] ttp://nevada-outback-gems.com/Reference_pages/sulfide_ores.htm Примечания по науманниту.

[3] Гильберт, Джон М .; Парк-младший, Чарльз Ф. (2007-02-09). Геология рудных месторождений . Waveland Press. п. 557. ISBN. 978-1-4786-0887-5.

[4] Кирхгоф Ф .; Holender JM; Гиллан MJ (1996). «Структура, динамика и электронная структура жидких сплавов Ag-Se исследованы методом ab initio моделирования». Physical Review B . 54 (1): 190–202. arXiv : mtrl-th / 9602001 . Bibcode : 1996PhRvB..54..190K . DOI : 10.1103 / PhysRevB.54.190 .

[AnJi2009-5] Ан, Бу Хён; Джи, Хе Мин; Ву, Цзюнь-Хуа; Чо, Мун Кю; Ян, Ки-Ён; Ли, Хон; Ким, Ён Гын (2009). «Тонкие пленки селенида серебра с фазовым переходом, полученные методом импульсного электроосаждения». Современная прикладная физика . 9 (6): 1338–1340. DOI : 10.1016 / j.cap.2008.12.017 . ISSN 1567-1739 .

[1]