В науке и технике внутреннее свойство - это свойство определенного субъекта, которое существует само по себе или внутри субъекта. Внешнее свойство не является существенным или присущим субъекту , который в настоящее время характеризуется. Например, масса - это внутреннее свойство любого физического объекта , тогда как вес - это внешнее свойство, которое зависит от силы гравитационного поля, в которое помещен объект.
Приложения в науке и технике
В материаловедении внутреннее свойство не зависит от того, сколько материала присутствует, и не зависит от формы материала, например, один большой кусок или совокупность мелких частиц. Внутренние свойства зависят в основном от основного химического состава и структуры материала. [1] Внешние свойства различаются в зависимости от наличия химических загрязнителей, которых можно избежать, или структурных дефектов. [2]
В биологии внутренние эффекты происходят изнутри организма или клетки , например, аутоиммунное заболевание или внутренний иммунитет .
В электронике и оптике внутренние свойства устройств (или систем устройств), как правило, не подвержены влиянию различных типов несущественных дефектов. [3] Такие дефекты могут возникать как следствие конструктивных недостатков, производственных ошибок или экстремальных условий эксплуатации и могут приводить к отличительным и часто нежелательным внешним свойствам. Идентификация, оптимизация и контроль как внутренних, так и внешних свойств входят в число инженерных задач, необходимых для достижения высокой производительности и надежности современных электрических и оптических систем. [4]
Смотрите также
- Интенсивные и обширные свойства
- Внутренняя и внешняя типология (теология)
- Внутренний фактор (биология)
- Внутренний полупроводник (материаловедение)
- Внутренняя функция (компьютерное программирование)
- Внутреннее уравнение (геометрия)
- Мотивация
- Солнечные пятна (экономика) , также известные как внешние случайные величины
- Коагуляция с внутренними и внешними путями свертывания крови
Рекомендации
- ^ Продовольственная и упаковочная инженерия (IFNHH, Университет Мэсси, Новая Зеландия)
- ^ Мишра, Умеш и Сингх, Джасприт, Глава 1: Структурные свойства полупроводников . В: Физика и дизайн полупроводниковых устройств, 2008 г., страницы 1-27, DOI : 10.1007 / 978-1-4020-6481-4 , ISBN 978-1-4020-6481-4
- ^ Суне, Jordi и Ву, Эрнест У., Глава 16: Дефекты , связанные с пробой диэлектрика в SiO2-Based ворота диэлектриков . В: Дефекты в микроэлектронных материалах и устройствах (редакцией Флитвуд, Даниил и Schrimpf, Ronald), 2008, страницы 465-496, DOI : 10,1201 / 9781420043778 , ISBN 9781420043778
- ^ Уэда, Осаму и Пиртон, редакторы Стивена Дж., Справочник по материалам и надежности полупроводниковых оптических и электронных устройств, 2013 г., DOI : 10.1007 / 978-1-4614-4337-7 , ISBN 978-1-4614-4337-7